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急峻pn接合Siダイオード技術を用いた高感度·高速性能低加速電圧電子線検出器

机译:采用陡峭pn结硅二极管技术的高灵敏度,高性能,低加速度电压电子束检测器

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摘要

あらまし 本稿では急峻pn接合Siダイオード技術を用いた高感度·高速性能を有する低加速電圧電子線検出器について報告する.薄くて急峻な不純物濃度プロファイルを有する表面高濃度層を用いた紫外-可視-近赤外光高感度フォトダイオード技術を応用してSi中への侵入長が短い低加速電圧電子線に対する感度を向上させ,加速電圧lkVにおいて51.8%の量子効率を得ると共に,低不純物濃度Si基板と素子感度領域の分割構造の導入により信号読出しの高速化に資する素子容量の低減を行った.
机译:小结本文介绍了一种采用陡峭pn结硅二极管技术的高灵敏度,高速性能的低加速度电压电子束检测器,紫外线可见-使用薄而陡峭的杂质浓度分布的表面高浓度层通过应用近红外高灵敏度光电二极管技术,提高了对短穿透硅长度的低加速电压电子束的敏感度,并在1kV的加速电压下获得了51.8%的量子效率,并且通过引入元件敏感区的分割结构,降低了元件的容量,从而有助于加快信号的读出速度,从而获得了低杂质浓度的Si衬底。

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