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α-SiAlON蛍光体の欠陥準位の光学的検出

机译:光学检测α-SiAlON荧光粉的缺陷水平

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摘要

白色LED用蛍光体として化学的、物理的に安定で効率の高いSiAlONが注目され、今後白色LEDのさらなる効率化のために非発光再結合準位としてふるまう欠陥準位の検出と評価が望まれる。本研究ではフォトルミネッセンス(PL)スペクトルよりもエネルギーの低い励起(Below-Gap Excitation,BGE)光を加えてα-SiAlON蛍光体の欠陥準位評価を試みた。
机译:SiAlON作为白光LED的磷光体在化学和物理上稳定且高效,因此受到关注,并且希望检测和评估表现为非发光复合能级的缺陷水平,以进一步提高LED的效率。未来的白光LED ..在这项研究中,我们尝试通过使用能量低于光致发光(PL)光谱的激发光(Below-Gap Excitation,BGE)来评估α-SiAlON荧光粉的缺陷水平。

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