at-speed scan testing; launch safety; power supply noise; test generation; test power;
机译:使用CTX的高速扫描测试中的高启动开关活动减少:基于时钟门的测试松弛和X填充方案
机译:使用CTX的高速扫描测试中的高发射切换活动减少:基于时钟门的测试松弛和X填充方案
机译:低捕获开关活动测试生成,可减少高速扫描测试中的IR下降
机译:电源感知测试生成具有保证的AT速扫描测试的启动安全性
机译:在扫描内置自检中进行测试生成和故障诊断。
机译:韩国临床检验质量保证协会最近推出的新一代水平测试计划的电解质测试的Sigma-Metrics
机译:具有功率意识的测试生成,保证了全速扫描测试的启动安全性