首页> 外文会议>Proceedings of the 2010 IEEE/ACM International Symposium on Nanoscale Architectures >Reducing transistor count in clocked standard cells with ambipolar double-gate FETs
【24h】

Reducing transistor count in clocked standard cells with ambipolar double-gate FETs

机译:利用双极性双栅极FET减少时钟标准单元中的晶体管数量

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摘要

This paper presents a set of circuit design approaches to achieve clocked standard logic cell functions with ambipolar double-gate devices such as the Double Gate Carbon Nanotube FET (DG-CNTFET). The cells presented in this work use the infield controllability of the device to reduce transistor count over conventional standard cells by only requiring n+1 transistors (where n is the fan-in), and achieve improved time delay by a factor of 2 for comparable power consumption.
机译:本文提出了一套电路设计方法,可通过双极性碳纳米管FET(DG-CNTFET)等双极性双栅极器件实现时钟控制的标准逻辑单元功能。这项工作中介绍的单元利用设备的场内可控性,通过仅需要n + 1个晶体管(其中n是扇入)来减少传统标准单元的晶体管数量,并且可将时间延迟提高2倍,从而可比较能量消耗。

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