机译:铁电薄膜电容器的扩散极限电流中的负微分电阻率和正温度系数电阻率效应
机译:紫外线对梳状电容器结构低介电常数SiOC(-H)薄膜漏电流特性和介电击穿的影响
机译:击穿测试期间LDPE膜中的空间电荷和外部电路电流测量
机译:电容器膜中电阻和吸收电流的测量直至击穿
机译:研究聚合物钽电容器中的击穿前电流。
机译:用于电阻传感器测量的两电容直接接口电路
机译:负微分电阻率和正温度系数 电阻率效应对铁电薄膜扩散限制电流的影响 薄膜电容器
机译:均匀高Tc a15 Nb3Ge薄膜的制备,隧穿,电阻率和临界电流测量。