首页> 外文会议>Electrical and Computer Engineering, 2005. Canadian Conference on >Nouveau wrapper P1500 incorporant une structure bist pour le test des IP et des interconnexions d'un SoC
【24h】

Nouveau wrapper P1500 incorporant une structure bist pour le test des IP et des interconnexions d'un SoC

机译:新的P1500包装器结合了用于测试SoC IP和互连的基本结构

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摘要

In this paper we have presented a new compact test architecture configurable in P1500 mode and BIST mode. An application and results are given
机译:在本文中,我们介绍了一种可配置为P1500模式和BIST模式的新型紧凑测试架构。给出申请和结果

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