design for testability; automatic test pattern generation; microprocessor chips; integrated circuit testing; integrated circuit design; DFT architecture; test pattern generation; Intel high performance microprocessor; ATPG techniques; return on investment; high volume manufacturing test environment;
机译:用于CUT(被测电路)的DFT(可测性设计)模式生成任务
机译:基于概念映射的两层测试策略对学生数字游戏的学习表演和行为模式的影响
机译:使用现场制造的样品的实验室总体损失性能测试,优化芯片密封的滚动模式
机译:英特尔高性能微处理器的优化DFT和测试模式生成策略
机译:使用模糊过程粒子群优化,模糊模式和预感因子的对抗系统模糊搜索策略生成。
机译:优化乙型白蛋白时态分类策略以提高阴道镜诊断性能
机译:acetowhhite颞型模式的分类策略优化提高阴道镜诊断性能