integrated circuit testing; crystal defects; minimum testing requirements; temperature defendent defects; defect screening; temperature dependent outliers; multiple temperature testing; die trace; wafer sort; 0.18 micron; 30 degC; 85 degC;
机译:更改测试和数据建模要求以将潜在缺陷筛选为统计异常值
机译:诊断麻风病作为零传播工具的最低要求和最佳测试策略:模型研究
机译:不同温度下奶牛舍最低通风量的估算及其对室内温度的影响:伯萨案例
机译:筛选温度依赖性缺陷的最低测试要求
机译:双向MANOVA设计的最小样本量要求:检验效应量,功效,α水平,因变量数和相互作用效应的功效。
机译:诊断麻风病作为零传播工具的最低要求和最佳测试策略:模型研究
机译:屏蔽温度相关缺陷的最低测试要求