机译:快速电子激发在Ni和MO的K边缘上方扩展的X射线特征荧光精细结构
机译:电子探针显微分析仪(EPMA)测量的铝K和铝的X射线发射光谱中的Al K边缘扩展了精细结构
机译:Ni-P和Fe-P非晶合金在磷k边缘的扩展X射线吸收精细结构分析
机译:延长X射线特征荧光细结构,Ni Cu Nicu和NIO的k边缘通过快速电子激发
机译:通过扩展的X射线吸收精细结构(EXAFS)和反射高能电子能量损失谱(RHEELS)研究II-VI基三元合金的局部结构。
机译:借助超快扩展X射线吸收精细结构光谱学分析溶液中溴代烷烃的光解结构
机译:通过表面延伸X射线吸收细结构测定Al / Cu和Al / Ni界面中的界面结构和相转移
机译:利用表面扩展的X射线吸收精细结构确定al / Cu和al / Ni界面的界面结构和相变