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【24h】

Race Conditions Among Protection Devices for a High Speed I/O Interface

机译:高速I / O接口的保护设备之间的竞争状况

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摘要

The ESD coupling path and on-board impedances strongly affect the ESD rise time seen on a PCB trace. Possible race conditions between external and on-die ESD protection were studied using measurement-based models of the transient response and on-board passives. Results show the interplay of rise time and protection turn-on can prevent the external TVS from responding in time.
机译:ESD耦合路径和板上阻抗会严重影响PCB走线上的ESD上升时间。使用基于测量的瞬态响应和板上无源模型,研究了外部和裸片ESD保护之间可能存在的竞争条件。结果表明,上升时间和保护开启之间的相互作用会阻止外部TVS及时响应。

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