Defect prediction; Supervised; Classifier; Data size;
机译:软件缺陷数量预测:无监督与有监督方法
机译:回顾有监督和无监督模型,以进行努力感知的及时缺陷预测
机译:重新审视监督和无监督模型的努力知识的缺陷预测
机译:更大的数据对于缺陷预测更好:检查数据规模对监督和无监督缺陷预测的影响
机译:未标记数据集上的软件缺陷预测
机译:数据集的大小和组成会影响肽-MHC结合预测的性能基准的可靠性
机译:半导体磁光数据的第一原理预测 缺陷:4H-siC中双相缺陷的情况