Circuit faults; Compaction; Semiconductor device modeling; Computational modeling; Fault diagnosis; Delays; Hazards;
机译:切换活动作为过渡故障的测试压缩启发式方法
机译:基于危害的检测条件,提高了基于扫描的测试的过渡故障覆盖率
机译:高过渡故障覆盖率和低测试成本的新型测试应用方案
机译:通过动态更新故障进行测试压缩以覆盖未检测到的过渡故障站点
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:含碳断层摩擦强度的成岩作用和剪切作用过渡及其对俯冲带地震破裂动力学的影响
机译:透明扫描下过渡故障的测试压缩