机译:适用于硬质涂层应用的Ti / TiN多层膜:通过实时光谱椭偏仪进行原位表征
机译:实时原位椭圆偏振光谱法和红外光谱在表征a-Si:H层界面结构中的应用
机译:原位实时光谱椭偏仪对银纳米颗粒薄膜光学性能的宽带分析
机译:Ag纳米粒子层的原位实时光谱椭偏分析用于背接触反射器应用
机译:实时光谱椭圆偏光法得出的用于指导光伏应用中硅薄膜沉积的相图。
机译:第一阶段CuIn1-xGaxSe2生长的实时光谱椭偏分析:铟镓硒共蒸发
机译:通过原位实时光谱椭圆形测定银纳米粒子的光学检测银纳米粒子的熔点凹陷