transmission electron microscopy; atomic force microscopy; high-voltage electron microscopy; focused ion beam; stress intensity factor; shielding effect;
机译:硅单晶HVEM断层扫描观察到的裂纹尖端周围位错过程的早期阶段
机译:硅晶体中裂纹尖端位错的HVEM表征。
机译:HVEM研究FIB和双刃切割法制备的Si晶体中的裂纹尖端位错。
机译:硅晶体中裂纹尖脱位的HVEM研究
机译:物理气相传输生长的碳化硅晶体中位错倍增的有限元建模。
机译:原子模拟研究ReWCo对Ni基单晶高温合金γ相裂纹尖端位错形核的影响
机译:HVEM / AFM观察与硅晶体中的裂缝相关的铰链型塑料区