A new, simplified waveform method is presented for delay fault testing. The method enables accurate calculation of a delay fault detection threshold for definitely detectable faults, and a delay fault range for possibly detectable faults. The method is shown to correctly classify definitely detectable faults which are mis-classified by methods recently reported elsewhere [1,2]. A quantitative delay fault model with variable fault size is used, and the effect of the delay fault is explicitly described by the new waveform method. The calculation of the detectable delay size threshold occurs in linear time for any definitely detectable fault.
提出了一种新的简化波形方法,用于延迟故障测试。该方法使得能够精确地计算对于肯定可检测的故障的延迟故障检测阈值,以及对于可能可检测的故障的延迟故障范围。结果表明,该方法可以正确地对绝对可检测的故障进行分类,而这些故障被最近在其他地方报道的方法[1,2]误分类了。使用具有可变故障大小的定量延迟故障模型,并通过新的波形方法明确描述了延迟故障的影响。对于任何绝对可检测的故障,可检测的延迟大小阈值的计算都在线性时间内进行。 P>
机译:组合电路中门延迟故障的线性测试方法的产生方法
机译:使用低架空内置延迟传感器的新型延迟故障测试方法
机译:具有概率执行器故障和漏电延迟的T-S模糊马尔科夫跳跃延迟中性型神经网络的鲁棒可靠控制设计:事件触发通信方案
机译:延迟故障测试的简化六波形类型方法
机译:压缩机制可减少测试模式计数,并针对路径延迟故障进行分段延迟故障测试
机译:NCCLS与3-(45-二甲基-2-噻唑基)-25-二苯基-2H-四唑溴化物(MTT)丝状真菌体外药敏试验方法的比较和新的简化方法的发展
机译:使用振荡测试方法测试嵌入式内核中的延迟故障