power semiconductor devices; semiconductor device reliability; reliability; repetitive electrical working conditions; CoolMOS transistors; transient avalanche; short-circuit operation; devices ageing; components failure;
机译:单芯片IGBT和COOLMOS器件在重复短路条件下的实验行为
机译:首席财务官的全球贸易议程:随着越来越多的业务与全球贸易紧密相连,营运资本周期变得越来越长,管理起来也越来越难
机译:联合对抗岌岌可危的工作条件? 解释工会在改善英国和德国肉类加工行业的移民工作条件方面的作用
机译:CoolMOS / SPL贸易的可靠性/在极其硬的重复电气工作条件下
机译:10 Hz调理电刺激在人中诱发长期电位(LTP)样疼痛放大的重测可靠性
机译:电力供应系统电气设备可靠性研究,具有大的工作时间