integrated circuit testing; automatic test pattern generation; algorithm theory; benchmark testing; ATPG algorithm; IDDT-based testing; software implementation; automatic generation; input vector pairs; test vectors; circuit switching activity; benchmark;
机译:基于固定测试向量的高效过渡故障ATPG算法
机译:ATPG生成的部分指定测试数据的压缩算法的实现
机译:基于SAT的ATPG超越了固定故障测试:对容错的应用
机译:用于I / SUB DDT /基于测试的新ATPG算法
机译:一种新的ATPG算法,可生成紧凑的测试集,以检测VLSI电路中的静态和动态缺陷。
机译:基于环形计数器的ATPG用于低转换测试模式生成
机译:AddTree / P:基于Sattath和Tversky的AddTrere算法的拟合添加剂树的Pascal计划