Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano piazza Leonardo da Vinci 32 - 20133, Italy;
Modeling; Photon Counting; Photon Detection Efficiency (PDE); Single-Photon Avalanche Diode (SPAD); Time Correlated Single Photon Counting (TCSPC);
机译:基于具有大幅度正弦电压的InGaAs / InP单光子雪崩二极管的单光子检测器的饱和检测效率
机译:具有改善的光子检测效率和暗计数噪声的可伸缩单视图雪崩二极管
机译:INGAASP / INP单光子雪崩二极管,具有超高光子检测效率
机译:设计仿真的光子检测效率和单光子雪崩二极管的时间响应
机译:具有内置负反馈功能的III-V单光子雪崩探测器,用于NIR光子检测。
机译:CMOS单光子雪崩二极管的光子检测概率模拟方法
机译:仿真高效和低抖动纳米结构硅单光子雪崩二极管