Electrical Apparatus Institute 323# Hebei University of Technology, Tianjin, 300130, China;
low-voltage circuit breakers; reliability evaluation; reliability compliance test;
机译:低压断路器电气寿命测试技术研究
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机译:加速寿命测试以提高可靠性:以塑壳断路器(MCCB)机构为例
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机译:重新计算对低压断路器电生寿命分布的影响研究