Department of Computer Science and Engineering, University of California, Riverside;
frequent value profiling; runtime profiling; on-chip profiling; hardware profiling; frequent loop detection; hot spot detection; dynamic optimization;
机译:使用高效的非侵入式片上硬件进行频繁的环路检测
机译:在役非侵入式测量设备中的高效非侵入式发散检测技术
机译:用于片上培训和分类能力的级联支持向量机的硬件高效VLSI设计
机译:使用高效的非侵入式片上硬件进行频繁的环路检测
机译:使用输入配置文件时间压缩在循环仿真中设计省时的实时硬件
机译:片上学习的高效k-胜者为王-所有竞争性学习硬件架构
机译:使用高效非侵入式片上硬件的频繁环路检测