A.M. Prokhorov General Physics Institute of the Russian Academy of Sciences, 38 Vavilov St., Moscow 119991, Russia;
Center for Surface and Vacuum Research, 40 Novatorov St., Moscow 119421, Russia;
A.M. Prokhorov General Physics Institute of the Russian Academy of Sciences, 38 Vavilov St., Moscow 119991, Russia;
Center for Surface and Vacuum Research, 40 Novatorov St., Moscow 119421, Russia;
test object; scanning electron microscope; atomic force microscope;
机译:在背散射电子模式下,在扫描电子显微镜中对具有梯形轮廓和大侧壁倾斜度的测试对象进行成像
机译:带有梯形轮廓的线宽测试对象,以及用于SEM和AFM的三种认证尺寸
机译:通过将倾斜的短元件加载到具有电容盘的梯形板的斜宽带天线
机译:测试对象,具有释放元件的右侧角度和梯形曲线
机译:有限元代码中梯形剪力板的开发与应用
机译:小学成功案例的认知测试和儿童报告数据的有效性
机译:通过将倾斜的短元件加载到具有电容盘的梯形板的斜宽带天线
机译:矩形截面直角弯管高速流动试验