Samsung RD Institute Russia, 12, Dvintsev str., Moscow, Russia 127018;
Samsung RD Institute Russia, 12, Dvintsev str., Moscow, Russia 127018;
Samsung RD Institute Russia, 12, Dvintsev str., Moscow, Russia 127018;
IT Solutions Business, Samsung Electronics Co., LTD., 416 Maetan-3Dong, Yeongtong-Gu, Suwon, Korea 443-742;
IT Solutions Business, Samsung Electronics Co., LTD., 416 Maetan-3Dong, Yeongtong-Gu, Suwon, Korea 443-742;
small originals segmentation; deskewing; cropping; labeling; classification;
机译:通过多次扫描电子显微镜图像自动识别半导体晶圆上的电路图案
机译:使用多个扫描电子显微镜图像自动识别半导体晶圆上的缺陷区域
机译:一种使用扫描数字X射线成像系统(一维变体)自动检测被检物体中夹杂物的算法
机译:扫描图像上的高性能自动裁剪和多个对象的偏离
机译:砷化镓(001)上砷化铟高度应变外延的扫描探针显微镜研究,以及基于扫描探针的纳米级三维物体的成像和操作。
机译:使用移动激光扫描数据自动检测和分类城市制图样对象
机译:空间扫描仪调查路径上监视对象的自动定位技术及构建原型扫描仪图像的算法