Department of Electrical EngineeringTechnion – Israel Institute of TechnologyHaifa 32000ISRAEL sherr@tx.technion.ac.il;
Department of Electrical EngineeringTechnion – Israel Institute of TechnologyHaifa 32000ISRAEL mp@ee.technion.ac.il;
CCD image; ; bayer pattern; ; demosaicing; ; least square method;
机译:去马赛克:从彩色CCD样本重建图像
机译:彩色相机的去马赛克图像用于数字图像关联
机译:使用内容和颜色相关分析进行图像去马赛克
机译:使用局部相关的CCD图像去马赛克
机译:基于电子倍增CCD的新型放射线和荧光透视成像仪的开发和评估:固态X射线图像增强器。
机译:CFA 3.0的去马赛克技术及其在低照度图像上的应用
机译:使用局部相关的CCD图像去马赛克
机译:彩色图像的多帧去马赛克和超分辨率