Université de Lille1 and IRCICA (USR CNRS 3380), Villeneuve d'Ascq, France;
IEMN - ISEN, Lille, France;
STMicroelectronics, Crolles, France;
Université de Lille1 and IRCICA (USR CNRS 3380), Villeneuve d'Ascq, France;
IEMN - ISEN, Lille, France;
Delays; Delay lines; Logic gates; Silicon-on-insulator; Sensitivity; Computer architecture; Transistors;
机译:三阶段粗精细调谐模拟辅助数字LDO
机译:具有粗调和突发模式操作的全集成数字LDO
机译:用于粗细TDC的基于新型全数字低功耗线的时间差放大器
机译:通过28nm FDSOI的栅极/身体偏置粗/微调的数字延迟线
机译:粗致细:调整分子包装以确定三重态对分离机制及分子偶联的作用
机译:一种微调电压门控钾通道中开态稳定性的新机制
机译:2.5μW0.0067mm2自动反向偏置补偿单元,在FDSOI 28nm泄漏下降50%,超过0.35至1VV
机译:新罕布什尔的混凝土骨料和碱 - 二氧化硅反应性。全州范围内细骨料和粗混凝土的评估