Department of Electrical and Computer Engineering, George Mason University, Fairfax, VA 22030, USA;
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机译:AG掺杂效应对电子,光学,载体转化,光催化和电气性能的对比研究MOS_2
机译:MoS_2和Fe掺杂的MoS_2的光电性能
机译:δ氮掺杂石墨烯纳米沥青料应变对电子性质的影响
机译:掺杂,应变和尺寸对MOS_2纳米电气性能的影响
机译:首先原理研究尺寸和应变对硅和碳化硅纳米结构的电子性能的影响。
机译:快速热退火对原子层沉积生长Zr掺杂ZnO薄膜的结构电学和光学性质的影响
机译:供体尺寸和重掺杂对低温下各种简并供体 - 硅系统的光学,电气和热电性能的影响