Institute of Materials Science, University of Connecticut, 97 North Eagleville Rd., Storrs, 06269-3136, USA;
机译:脉冲放电条件下金属化薄膜电容器的电容损失机理
机译:先进电容器电介质对金属化薄膜电容器绕组性能的影响
机译:有望提高用于薄膜电容器的金属化薄膜的产量
机译:金属化薄膜电容器清除机理
机译:了解电容器应用的多层聚合物膜的损失机制和增强介电性能
机译:在高延展性金属玻璃膜中揭示出原子尺度的粘塑性机制
机译:薄膜厚度和电极面积对金属化电容膜介电击穿特性的影响