Logikoptimierung in Synchronen Sequentiellen Schaltungen durch Testgenerierungstechniken

摘要

Logikoptimierung mittels Testgenerierungsmethoden wie Redundanzaddition und -entfernung sind bereits veröffentlicht worden. In diesem Artikel werden diese Methoden auf synchrone sequentielle Schaltungen generalisiert. Es werden neue effiziente sequentielle Transformationen gezeigt, die es ermöglichen, große sequentielle Schaltungen zu optimieren. Die wesentliche Neuerung ist, Redundanzen zwischen verschiedenen Zeitrahmen in sequentiellen Schaltungen zu addieren. Zudem wird gezeigt, wie Redundanzen zur Invalidierung einer Initialisierung addiert werden können. Dieses Optimierungssystem für synchrone sequentielle Schaltungen wurde implementiert und experimentelle Ergebnisse werden hier gezeigt.