Radiation Monitoring Devices, 44 Hunt St, Watertown, MA, USA 02472,Northeastern University Physics Department, 360 Huntington Ave, 111 Dana Research Center, Boston, MA, USA 02115;
Radiation Monitoring Devices, 44 Hunt St, Watertown, MA, USA 02472;
Radiation Monitoring Devices, 44 Hunt St, Watertown, MA, USA 02472;
Radiation Monitoring Devices, 44 Hunt St, Watertown, MA, USA 02472;
Diffuse reflectance; Monte Carlo; Inverse modeling; Tissue phantoms; Scattering and absorption; Spectroscopy;
机译:神经网络从空间分辨漫反射确定混浊介质的光学性质
机译:通过同时分析稳态漫反射光谱的光谱和空间信息来量化两层混浊介质的光学性质
机译:高光谱漫反射成像,用于快速,非接触式测量浑浊材料的光学特性
机译:通过SVM从空间分辨的漫反射中确定两层混浊介质的光学性质
机译:根据频域中空间分辨的反射率测量值确定两层混浊介质的光学特性。
机译:通过同时分析稳态漫反射光谱的光谱和空间信息来量化两层混浊介质的光学性质
机译:基于空间分解的漫反射率测量的基于元模型的鲁棒的浊介质体光学性质的逆估计