首页> 外文会议>Conference on Quantum Electronics Metrology; 20080120-23; San Jose,CA(US) >Study of Raman-Ramsey fringes for enhanced precision in a chip scale Rb clock
【24h】

Study of Raman-Ramsey fringes for enhanced precision in a chip scale Rb clock

机译:拉曼-拉姆西条纹在芯片级Rb时钟中提高精度的研究

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摘要

We report observation of high contrast Raman-Ramsey fringes using time delayed optical pulse pairs in a rubidium vapor cell. The width of these fringes are not limited by saturation and provides a simpler means to produce narrow atomic linewidths using a thermal vapor medium for compact atomic clock applications. We also demonstrate phase-scanned Raman-Ramsey fringes, with potential application to sensitive detection of trace vapors.
机译:我们报告observation气蒸气池中使用时间延迟的光脉冲对的高对比度拉曼-拉姆齐条纹的观察。这些条纹的宽度不受饱和度的限制,并提供了一种更简单的方法来使用紧凑的原子钟应用中的热蒸气介质来产生窄的原子线宽。我们还演示了相位扫描拉曼-拉姆齐条纹,其潜在应用可用于痕量蒸汽的灵敏检测。

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