Bremer Institut fuer Angewandte Strahltechnik (BIAS), Klagenfurter Strasse 2, 28359 Bremen, Germany;
structured light; 3D shape measurement; specular or reflective surface; fringe reflection; deflectometry;
机译:基于二色反射模型的镜面表面3D形测量有效框架
机译:基于颜色编码条纹反射技术的动态镜面测量
机译:利用镜面反射分量和形状测量对3-D对象表面的亮度分布进行建模
机译:通过边缘反射镜面上的高分辨率3D形状测量
机译:条纹投影方法的开发和评估,用于精确的表面形状测量。
机译:通过直接相位测量偏折法对不连续镜面物体进行全场3D形状测量
机译:用改进的有源条纹反射摄影测量法测量镜面的绝对高度
机译:红外测量的海洋表面粗糙度:反射形状的失效。