Dept. of optoelectronic Engineering, Beijing Institute of Technology, No.5, Zhongguancun Nandajie, Haidian District, Beijing, China, 100081;
photoconductive switch; transient measurements; ultrafast scanning tunneling microscope (USTM);
机译:用于直接测量纳米级性质的显微镜:多尖端扫描隧道显微镜
机译:显微镜用于纳米级特性的直接测量:多尖扫描隧道显微镜
机译:光子扫描隧道显微镜中的光电导成像,能够使用导电纤维探针进行点接触电流感测
机译:用超快扫描隧道显微镜测量光电导电压开关
机译:扫描隧道显微镜中的超快电子发射和分子动力学
机译:分子电子学的特色:在扫描隧道显微镜中电子通过双势垒分子结的传输速率
机译:使用超快扫描隧道显微镜在光激发半导体层上进行测量