Korea Advanced Institute of Science and Technology, Department of Mechanical Engineering, BUPE Creative Research Group, Science Town, Daejeon, 305-701, Korea;
interferometry; white-light scanning interferometry; phase change on reflection; step height measurement;
机译:白光干涉法中反射的相位变化补偿,用于步长测量
机译:扫描白光干涉仪中的被动振动补偿
机译:在白光扫描干涉法中使用更高阶的相移算法和线性最小二乘拟合
机译:白光扫描干涉法反射相变的补偿
机译:紫外线反射引起的相变
机译:基于希尔伯特相位细分的频率扫描干涉术绝对距离测量
机译:白光扫描干涉法中基于高阶相移算法的中心波长测量