Paul Scherrer Institut 5232 Villigen PSI Switzerland;
Paul Scherrer Institut 5232 Villigen PSI Switzerland Ecole Polytechnique Federate de Lausanne 1015 Lausanne Switzerland;
Siemens AG Healthcare Sector 91301 Forchheim Germany;
hard x-ray; phase contrast; computed tomography; CT; grating interferometry; talbot effect; complex refractive index;
机译:常规光源上100?keV的X射线相衬成像
机译:使用常规X射线管的基于二维光栅的相衬成像
机译:LCLS处的冲击压缩物质同时进行8.2 keV相衬成像和24.6 keV X射线衍射
机译:使用传统的X射线管相对对比成像和60keV的断层摄影
机译:基于激光等离子体的X射线源的体内相差微计算机断层扫描探索
机译:常规光源上100 keV的X射线相衬成像
机译:使用传统的X射线管源60keV的相位对比度成像和断层扫描