スチルベン単分子架橋における電流一電圧特性の経時変化

摘要

単一分子の電気特性は分子の構造や立体配座に繊細に応答し、変化する。Venkataramanらは分子の立体配座の変化が電気伝導度に影響を与えることを報告したり。しかし、立体配座の変化が電流-電圧(Ⅰ-Ⅴ)特性に与える影響についてはほとんど研究されていない。そこで、機械制御ブレークジャンクション法（MCBJ法）を用いてスチルベンのⅠ-Ⅴ特性を測定したところ、同一の単分子架橋中で整流比が変化する様子が見られたので、以下に示すような実験を行った。