Institute of IEEE, Riga Technical University, Riga, Latvia;
Institute of IEEE, Riga Technical University, Riga, Latvia;
electronic equipment manufacture; electronic equipment testing; failure analysis; life testing; power electronics; product life cycle management; reliability;
机译:使用正弦驻留并具有共振跟踪的电子组件加速振动可靠性测试
机译:L. Hart对“修改后的设计的可靠性-电子组件加速测试的贝叶斯分析”的评论和答复
机译:修改设计的可靠性:电子组件加速测试的贝叶斯分析
机译:电力电子组件可靠性评估的加速寿命测试
机译:考虑可靠性/寿命预测的加速寿命测试的最佳分步应力计划。
机译:使用加速寿命测试的电子引信的可靠性和剩余寿命评估
机译:使用加速寿命测试的电子引信的可靠性和剩余寿命评估
机译:用于Ws-133B(mINUTEmaN)的电气电子系统电子干扰细节测试要求图a的评估测试程序14100,电缆组件,电源,电气图a 14101,充电器,电池pp-4068 / U图a 14102,充电器,电池pp-4069 / U图a 14103,开关板,配电sB-2686 / U图a 14106,电动机发电机pU-605 / G