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高経年550 kV ガス絶縁開閉装置の劣化調査(その4): 等価温度を用いたO リング寿命評価

机译:老化的550 kV气体绝缘开关设备的劣化研究(第4部分):使用等效温度的O形环寿命评估

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摘要

経年37 年となる550 kV GIS のO リングに対し,等価温rn度を算出することで寿命評価を行った。rnその結果,本調査対象機は他変電所に比べ,通電負荷のrn影響が微小であるために等価温度が低く,シール寿命が長rnい傾向にあることがわかった。また,O リングシール寿命rnと等価温度の間にアレニウス則に基づく相関関係が確認さrnれ,O リング劣化評価指標としての等価温度の妥当性を示rn唆する結果が得られた。
机译:通过计算550 kV GIS的O形圈的等效温度rn度来评估寿命,该寿命为37年。结果发现,与其他变电站相比,本研究的目标机器比其他变电站具有更低的等效温度和更长的密封寿命,因为通电负载的影响很小。另外,确认了基于Arrhenius定律的O形环密封件寿命rn与等效温度之间的相关性,并且获得了显示等效温度作为O形环劣化评价指标的有效性的结果。

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    九州電力株式会社〒810-0005 福岡市中央区清川2-13-6;

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    三菱電機株式会社〒661-8661 尼崎市塚口本町8-1-1;

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