Delhi Technological University (Formerly Delhi College of Engineering), India;
Amount of fading (AF); FW Method; Log normal random variable; Maximal Ratio Combining (MRC); Outage probability (Pout); Probability of density function (PDF); Random Variables RVs;
机译:威布尔衰落和阴影存在下MRC合并器输出信号的性能分析
机译:对数正态衰落下SSC合路器输出信号的性能
机译:存在对数正态衰落的两个时刻的SSC合路器输出信号的联合概率密度函数
机译:MRC Combiner输出信号在日志正常阴影衰落中的性能分析
机译:相关阴影衰落下的蜂窝网络性能分析。
机译:对数正态阴影衰落无线传感器网络在物理壁垒攻击下定位精度的性能评估
机译:瑞典褪色和逻辑正常阴影信号对微孔无线电频谱效率的影响