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A 7b 1.4GS/s ADC with offset drift suppression techniques for one-time calibration

机译:具有一次漂移校准技术的7b 1.4GS / s ADC,可进行一次校准

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摘要

A 7b 1.4 GS/s flash ADC is developed in 45 nm CMOS. This is the first paper of an ADC with offset drift suppression techniques for dynamic comparator and preamplifier. These techniques make the ADC robust against environmental variation. As a result, once the ADC is calibrated at power up, no more calibration is necessary even under VDD or temperature variations. The ADC occupies a small area of 0.085 mm2 and dissipates 33.24 mW at 1.4 GS/s from a 1.15V supply.
机译:在45 nm CMOS中开发了7b 1.4 GS / s闪存ADC。这是针对动态比较器和前置放大器采用偏移漂移抑制技术的ADC的第一篇论文。这些技术使ADC能够抵抗环境变化。结果,一旦在上电时对ADC进行了校准,即使在VDD或温度变化的情况下,也无需进行任何校准。 ADC占地很小,为0.085 mm 2 ,并且在1.15V电源下以1.4 GS / s的功耗消耗了33.24 mW。

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