EE Department, SSERC, Arizona State University, Tempe, AZ 85287;
run-to-run control; dead-zone; bounded disturbances;
机译:集成故障检测方法和运行到运行控制以改善半导体过程控制
机译:用于提高纳米级产品平整度的逐次运行轮廓控制算法
机译:使用健壮的参数设计和运行到运行的控制RPD改善研磨过程运行到运行* 2 100088
机译:运行控制:使用死区以提高速度方差折衷
机译:机器人手臂的可变阻尼控制,以改善性能和稳定性之间的折衷
机译:具有未知死区的双液压执行器的主动扰动抑制位置同步控制
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