University of California at Riverside, Riverside, CA 92506, USA;
机译:在PHENIX实验中测量p + p,d + Au,Cu + Cu碰撞产生的重味衰变产生的电子
机译:PHENIX FVTX跟踪器的硅传感器和定制读数电子产品的生产和性能
机译:来自单电子生产的PHENIX数据的粘熵密度比
机译:使用电子标记重型味道生产的诸如苯的ΔG
机译:使用质子能中心= 8 TeV的pp碰撞中的软电子标记,在μonplus射流通道中测量Ttbar的生产截面。
机译:估计和预防措施的寨卡单阶段和多阶段疾病模型的基本繁殖数量和最终规模的计算和数学方法
机译:来自$ p $ + $ p $,$ d $ + au的重味衰变电子的测量, 和pHENIX实验中的Cu + Cu碰撞