Section of Computer Engineering, Faculty of Information Technology and Systems Delft University of Technology, Mekelweg 4, 2628 CD Delft, The Netherlands;
DRAMs; process variations; border resistance trace; defect simulation; memory testing;
机译:3-D集成工艺对高可靠性3-D DRAM的薄型DRAM芯片中存储器保留特性的影响
机译:测试关于物种边界的进化假设:两个热带雨林果蝇和一个相关的栖息地通才的南部边界的遗传变异模式
机译:测试关于物种边界的进化假设:两个热带雨林果蝇和一个相关的栖息地通才的南部边界的遗传变异模式。
机译:使用边界电阻走线分析工艺变化对DRAM测试的影响
机译:DRAM / eDRAM和3D-DRAM的省电方法,利用工艺变化,温度变化,设备降级和内存访问工作负载变化,以及使用具有服务质量的3D-DRAM的创新的异构存储管理方法。
机译:测试关于物种边界的进化假设:两个热带雨林果蝇和一个相关的栖息地通才的南部边界的遗传变异模式
机译:利用边界电阻迹线分析工艺变化对DRam测试的影响