全谱ICP-AES多谱拟合功能的验证及其在稀土产品纯度分析中的应用

摘要

使用美国瓦里安公司的725-ES全谱ICP-AES仪器验证了其多谱拟合功能的背景校正，基体效应校正以及干扰元素校正的情况，并利用此功能测定了La2O3，CeO2，Pr6O11，Nd2O3，Sm2O3中的稀土杂质以及(LaCe)XOY，(Pr Nd)XOY中的稀土杂质，使La2O3，CeO2，Pr6O11，Nd2O3，Sm2O3中的稀土杂质的测定下限大大降低，(LaCe)XOY，(Pr Nd)XOY的配分发生改变时，使用统一的基体匹配得以校正。