XRD法快速测定铝电解质成分和分子比的应用探讨

摘要

作者提出了一种全新测定铝电解质成分方法XRD 法即X 射线衍射法。采用X 射线衍射仪在 3 分钟时间内，可以准确的测定出铝电解质中的冰晶石、亚冰晶石、氟化钙、氧化铝、氟化锂、氟化钾、游离氟化钠、游离氟化铝等含量大于0.5%物相，并根据各物相的成分含量，计算出指导铝电解生产的分子比。为了此方法的应用推广，研制了一套适合测定上述成分的铝电解质标准样品。