基于TRL校准的封装式晶体管噪声参数测试

摘要

测试夹具一直是封装式晶体管噪声参数测试的难点,本文详细介绍了基于PCB板材如何设计测试夹具和TRL校准件,并且对制作的测试夹具和TRL校准件从时域和频域作了全面的校验.此外,本文还全面介绍了基于安捷伦公司高性能矢网PNA-X的全新的噪声参数测试方案,这种方案设置更简单,测试速度更快,精度更高.