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暗物质探测双发光晶体技术

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本文在概述暗物质直接探测技术的基础上,提出使用双发光晶体进行暗物质探测的原创方法,晶体掺杂对基质发光没有自吸收,晶体便具有掺杂和基质双发光性质,低温可使晶体基质的发光变强.本文通过考察晶体掺杂间距及能损计算阐明了双发光晶体的核反冲与电子反冲分辨机制,并简要介绍实验测量结果.

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来源
《第十六届全国核电子学与核探测技术学术年会》|2012年|217-222|共6页
会议地点四川绵阳
作者
孙希磊; Sun Xi-lei; Lu Jun-guang; 吕军光; Hu Tao; 胡涛; 周莉; Zhou Li; 曹俊; Cao Jun; Wang Yi-fang; 王贻芳; Zhan Liang; 占亮; Zhang Ai-wu; 章爱武; Zhou Xiang; 周详; Duan Si-han; 段斯涵; Ding Xue-feng; 丁雪峰; Zhang Kun; 张坤; 王志刚; Wang Zhi-gang; 蔡啸; Cai Xiao; 俞伯祥; Yu Bo-xiang; 方建; Fang Jian; 谢宇广; Xie Yu-guang; Gao Long; 高龙; 牛顺利; Niu Shun-li; Sun Li-jun; 孙丽君;
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作者单位

中国电子学会;

中国核学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类其他;
关键词
天体物理学; 暗物质; 双发光晶体; 探测技术;

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