一款高能效处理器的硅后功耗测试与评估

摘要

低功耗设计是目前微处理器设计中的重要环节.为了降低功耗,X处理器采用了时钟门控、电源门控、DVFS等低功耗设计技术.本文通过开发板控制模块和固件级的测试程序,对流片后的X处理器各功耗优化功能进行了测试,统计了各执行模式下的功耗值,并且分别建立了普通负载、计算密集型负载、访存密集型负载对X处理器功耗影响的数学模型,通过这些模型可以准确地计算出不同负载、不同频率以及不同核数下X处理器的功耗值范围,为后续操作系统级的动态功耗管理算法设计奠定了基础.