沉淀富集薄膜源—X射线荧光法分析铀的方法研究

摘要

研究用X射线荧光法测量微量U的可行性。通过采用Fe-DDTC共沉淀富集法，结合薄膜源制样技术和提高X射线荧光仪的灵敏度等措施，提高方法灵敏度。研究得出主要结论:U的检出限为0.04μg/mL，比常规的溶液法X射线荧光分析的检出限降低约一个数量级，达到了实验预期目标，为“分离-X射线荧光测量微量撑的分析技术研究”奠定了基础。