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近红外辐射温度计及中低温固定点黑体调研

摘要

由于探测器技术的快速发展,使得辐射测温的测温下限不断下延.许多国家计量院已经研制了InGaAs近红外辐射温度计作为1000℃以下辐射温度计标准器.而该辐射温度计的分度需要中低温固定点和Sakuma方程来实现.为了满足近红外辐射温度计量值溯源的需求,各个国家计量院相应地建立了中低温固定点黑体辐射源(铟点、锡点、锌点、铝点和银点).文章从InGaAs辐射温度计和中低温固定点黑体的实验装置、仪器性能及测试结果等方面系统综述了先进国家计量院中低温辐射测温的研究进展,还介绍了中国计量科学研究院的InGaAs近红外辐射温度计以及中低温固定点黑体的研究进展.

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