三种氢氧化钙制剂对年轻恒牙断裂抗力影响的体外研究

摘要

目的：体外比较3种氢氧化钙制剂根管充填后对年轻恒牙牙体断裂抗力的影响,以期为临床更合理地使用氢氧化钙制剂提供依据.方法：临床选取因正畸拔除的人前磨牙140颗,使用计算机产生的随机数分组法将其分为10组,每组14个样本.其中9组为实验组,1组为空白对照组.实验组在常规根管预备后,其中的3组根管内充填Ca(OH)2水糊剂(CⅠ、CⅡ和CⅢ组)、3组根管内充填Metapex糊剂(MⅠ、MⅡ和MⅢ组)、3组根管内充填Vitapex糊剂(VⅠ、VⅡ和VⅢ组);空白对照组不进行根管充填.分别在根充后14 d对CⅠ、MⅠ和VⅠ组、根充后1个月对CⅡ、MⅡ和VⅡ组、根充3个月后对CⅢ、MⅢ和VⅢ组离体牙样本进行断裂抗力测试;空白对照组于3个月时进行断裂抗力测试.使用SNK分析法对每组牙断裂抗力均值进行统计学分析.结果：3种糊剂根充14 d后对年轻恒牙牙体断裂抗力无显著影响,空白对照、CⅠ、MⅠ及VⅠ组的断裂抗力分别为(591 ±72)、(536±107)、(547±113)、(570±123)N,各实验组与空白对照组相比差异均无统计学意义(P＞0.05);根充1个月后3种糊剂均可使年轻恒牙牙体断裂抗力显著下降,CⅡ、MⅡ及VⅡ组的断裂抗力分别为(421±78)、(442±82)、(477±100)N,均显著低于空白对照组(P＜0.01);根充3个月后CⅢ、MⅢ及VⅢ组的断裂抗力也均显著低于空白对照组(P＜0.01).结论：Ca(OH)2水糊剂、Metapex糊剂及Vitapex糊剂均可在根充1个月后对年轻恒牙牙体断裂抗力产生明显影响,建议临床中可将氢氧化钙作为短期(1个月以内)根管内封存药物使用;对治疗周期较长的病例,建议1个月后改用其他药物或治疗技术.