阵列中子测井的影响因素的响应研究及校正原理

摘要

阵列中子测井测量的是超热中子,相对热中子测井而言可以避开热中子的俘获和扩散影响,从而可以更精确地反映地层的真实孔隙度.在套管井中,阵列脉冲中子测井的测量结果受到井眼流体、间隙、套管、水泥环和地层的影响,为了准确求取地层的孔隙度,需要对这些影响因素进行校正.通过对影响因素的响应的研究发现间隙对超热中子寿命的影响大于对比值孔隙度的影响，因此超热中子寿命与真孔隙度及间隙等函数关系的建立的准确程度决定着最终的校正结果是否准确。在进行间隙水泥等因素进行校正时，既可以用上述的方程组反演出孔隙度，也可以用交绘图法得到间隙校正图版，然后用插值计算，但前者的计算精度更高。